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出廠試驗(yàn)局部放電測(cè)量?jī)x實(shí)驗(yàn)結(jié)果更準(zhǔn)確


隨著人們對(duì)配網(wǎng)建設(shè)的重視和無(wú)功補(bǔ)償技術(shù)的發(fā)展,配電網(wǎng)的無(wú)功補(bǔ)償技術(shù)問題得到了較好的解決。本文從降低網(wǎng)損和提高供電質(zhì)量的角度出發(fā),探討了無(wú)功補(bǔ)償?shù)淖饔眉皫追N補(bǔ)償方式,重點(diǎn)分析了配電無(wú)功補(bǔ)償方法、配置技術(shù)和經(jīng)濟(jì)效益,對(duì)配電網(wǎng)無(wú)功補(bǔ)償工作有積極的促進(jìn)作用。

隨著國(guó)民經(jīng)濟(jì)的高速發(fā)展和人民生活水平的提高,人們對(duì)電力的需求日益增長(zhǎng),同時(shí)對(duì)供電的可靠性和供電質(zhì)量提出了更高的要求。由于負(fù)荷的不斷增加,以及電源的大幅增加,不但改變了電力系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),也改變了系統(tǒng)的電源分布,造成系統(tǒng)的無(wú)功分布不盡合理,甚至可能造成局部地區(qū)無(wú)功嚴(yán)重不足、電壓水平普遍較低的情況。隨著系統(tǒng)結(jié)構(gòu)日趨復(fù)雜,當(dāng)系統(tǒng)受到較大干擾時(shí),就可能在電壓穩(wěn)定薄弱環(huán)節(jié)導(dǎo)致電壓崩潰。因此,無(wú)功補(bǔ)償已經(jīng)成為供電企業(yè)和電力客戶共同關(guān)心的課題。


第1章 局放理論概述(出廠試驗(yàn)局部放電測(cè)量?jī)x實(shí)驗(yàn)結(jié)果更準(zhǔn)確

在開始我們的實(shí)驗(yàn)以前,我們首先應(yīng)該對(duì)局部放電有個(gè)初步的了解,為什么要測(cè)量局部放電?局部放電有什么危害?怎樣準(zhǔn)確測(cè)量局部放電?有了上述理論基礎(chǔ)可以幫助我們理解測(cè)量過程中的正確操作。

一、局部放電的定義及產(chǎn)生原因(出廠試驗(yàn)局部放電測(cè)量?jī)x實(shí)驗(yàn)結(jié)果更準(zhǔn)確

在電場(chǎng)作用下,絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電,但尚未擊穿,(即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒有擊穿)。這種現(xiàn)象稱之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上,也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部,發(fā)生在表面的稱為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱為內(nèi)部局部放電。而對(duì)于被氣體包圍的導(dǎo)體附近發(fā)生的局部放電,稱之為電暈。由此 總結(jié)一下局部放電的定義,指部分的橋接導(dǎo)體間絕緣的一種電氣放電,局部放電產(chǎn)生原因主要有以下幾種:

電場(chǎng)不均勻。

電介質(zhì)不均勻。

制造過程的氣泡或雜質(zhì)。*經(jīng)常發(fā)生放電的原因是絕緣體內(nèi)部或表面存在氣泡;其次是有些設(shè)備的運(yùn)行過程中會(huì)發(fā)生熱脹冷縮,不同材料特別是導(dǎo)體與介質(zhì)的膨脹系數(shù)不同,也會(huì)逐漸出現(xiàn)裂縫;再有一些是在運(yùn)行過程中有機(jī)高分子的老化,分解出各種揮發(fā)物,在高場(chǎng)強(qiáng)的作用下,電荷不斷地由導(dǎo)體進(jìn)入介質(zhì)中, 在注入點(diǎn)上就會(huì)使介質(zhì)氣化。

二 、局部放電的模擬電路及放電過程簡(jiǎn)介(出廠試驗(yàn)局部放電測(cè)量?jī)x實(shí)驗(yàn)結(jié)果更準(zhǔn)確

介質(zhì)內(nèi)部含有氣泡,在交流電壓下產(chǎn)生的內(nèi)部放電特性可由圖1—1的模擬電路(a b c等值電路)予以表示;其中Cc是模擬介質(zhì)中產(chǎn)生放電間隙(如氣泡)的電容;Cb代表與Cc串聯(lián)部分介質(zhì)的合成電容;Ca表示其余部分介質(zhì)的電容。

I——介質(zhì)有缺陷(氣泡)的部份(虛線表示)

II——介質(zhì)無(wú)缺陷部份

圖1—1  表示具有內(nèi)部放電的模擬電路

11中以并聯(lián)有對(duì)火花間隙的電容Cc來(lái)模擬產(chǎn)生局部放電的內(nèi)部氣泡。圖1—2表示了在交流電壓下局部放電的發(fā)生過程。

U(t)一一外施交流電壓

Uc(t)一一氣泡不擊穿時(shí)在氣泡上的電壓

Uc’(t)一一有局部放電時(shí)氣泡上的實(shí)際電壓

Vc一一氣泡的擊穿電壓

Y r一一氣泡的殘余電壓   

Us—局部放電起始電壓(瞬時(shí)值)

Ur一一與氣泡殘余電壓v r對(duì)應(yīng)的外施電壓

Ir一一氣泡中的放電電流

電極間總電容Cx=Ca(Cb×Cc)/(CbCc)=Ca電極間施加交流電壓 u(t)時(shí),氣泡電容Cc上對(duì)應(yīng)的電壓為Uc(t)。如圖2—1所示,此時(shí)的Uc(t)所代表的是氣泡理想狀態(tài)下的電壓(既氣泡不發(fā)生擊穿)。

Uc(t)=U(t)×Cb/CcCb

外施電壓U(t)上升時(shí),氣泡上電壓Uc(t)也上升,當(dāng)U(t)上升到Us時(shí),氣泡上電壓Uc達(dá)到氣泡擊穿電壓,氣泡擊穿,產(chǎn)生大量的正、負(fù)離子,在電場(chǎng)作用下各自遷移到氣泡上下壁,形成空間電菏,建立反電場(chǎng),削弱了氣泡內(nèi)的總電場(chǎng)強(qiáng)度,使放電熄滅,氣泡又恢復(fù)絕緣性能。這樣的一次放電持續(xù)時(shí)間是極短暫的,對(duì)一般的空氣氣泡來(lái)說(shuō),大約只有幾個(gè)毫微秒(10的負(fù)8次方到10的負(fù)9次方秒)。所以電壓Uc(t)幾乎瞬間地從Vc降到VrVr是殘余電壓;而氣泡上電壓Uc(t)將隨U(t)的增大而繼續(xù)由Vr升高到Vc時(shí),氣泡再次擊穿,發(fā)生又次局部放電,但此時(shí)相應(yīng)的外施電壓比Us小,為(Us-Ur),這是因?yàn)闅馀萆嫌袣堄嚯妷?/span>Vr的內(nèi)電場(chǎng)作用的結(jié)果。Vr是與氣泡殘余電壓Yr相應(yīng)的外施電壓,如此反復(fù)上述過程,即外施電壓每增加(Us-Ur),就產(chǎn)生一次局部放電.直到前次放電熄滅后,Uc’(t)上升到峰值時(shí)共增量不足以達(dá)Vc(相當(dāng)于外施電壓的增量Δ比(Us-Ur))為止。

此后,隨著外施電壓U(t)經(jīng)過峰值Um后減小,外施電壓在氣泡中建立反方向電場(chǎng),由于氣泡中殘存的內(nèi)電場(chǎng)電壓方向與外電場(chǎng)方向相反,故外施電壓須經(jīng)(Us+Ur))的電壓變化,才能使氣泡上的電壓達(dá)到擊穿電壓Vc,(假定正、負(fù)方向擊穿電壓Vc相等),產(chǎn)生一次局部放電。放電很快熄滅,氣泡中電壓瞬時(shí)降到殘余電壓Vr(也假定正、負(fù)方向相同)。外施電壓繼續(xù)下降,當(dāng)再下降(Us-Ur)時(shí),氣泡電壓就又達(dá)到Vc從而又產(chǎn)生一次局部放電。如此重復(fù)上述過程,直到外施電壓升到反向蜂值一Um的增量Δ不足以達(dá)到(Us-Ur)為止。外施電壓經(jīng)過一Um峰值后,氣泡上的外電場(chǎng)方向又變?yōu)檎较颍c氣泡殘余電壓方向相反,故外施電壓又須上升(Us+Ur)產(chǎn)生第次放電,熄滅后,每經(jīng)過Us—Ur的電壓上升就產(chǎn)生一次放電,重復(fù)前面所介紹的過程。如圖1—2所示。

由以上局部放電過程分析,同時(shí)根據(jù)局部放電的特點(diǎn)(同種試品,同樣的環(huán)境下,電壓越高局部放電量越大)可以知道:一般情況下,同一試品在一、三象限的局部放電量大于二、四象限的局部放電量。那是因?yàn)樗鼈兪请妷旱纳仙亍#ǖ谌笙奘请妷贺?fù)的上升沿)。這就是我們測(cè)量中為什么把時(shí)間窗刻意擺在一、三象限的原因。


三、局部放電的測(cè)量原理:(出廠試驗(yàn)局部放電測(cè)量?jī)x實(shí)驗(yàn)結(jié)果更準(zhǔn)確

局放儀運(yùn)用的原理是脈沖電流法原理,即產(chǎn)生一次局部放電時(shí),試品Cx兩端產(chǎn)生一個(gè)瞬時(shí)電壓變化Δu,此時(shí)若經(jīng)過電Ck耦合到一檢測(cè)阻抗Zd上,回路就會(huì)產(chǎn)生一脈沖電流I,將脈沖電流經(jīng)檢測(cè)阻抗產(chǎn)生的脈沖電壓信息,予以檢測(cè)、放大和顯示等處理,就可以測(cè)定局部放電的一些基本參量(主要是放電量q)。在這里需要指出的是,試品內(nèi)部實(shí)際的局部放電量是無(wú)法測(cè)量的,因?yàn)樵嚻穬?nèi)部的局部放電脈沖的傳輸路徑和方向是極其復(fù)雜的,因此我們只有通過對(duì)比法來(lái)檢測(cè)試品的視在放電電荷,即在測(cè)試之前先在試品兩端注入一定的電量,調(diào)節(jié)放大倍數(shù)來(lái)建立標(biāo)尺,然后將在實(shí)際電壓下收到的試品內(nèi)部的局部放電脈沖和標(biāo)尺進(jìn)行對(duì)比,以此來(lái)得到試品的視在放電電荷。 相當(dāng)于外施電壓的增量Δ比(Us-Ur))為止。

四、局部放電的表征參數(shù)(出廠試驗(yàn)局部放電測(cè)量?jī)x實(shí)驗(yàn)結(jié)果更準(zhǔn)確

局部放電是比較復(fù)雜的物理現(xiàn)象,必須通過多種表征參數(shù)才能全方位的描繪其狀態(tài),同時(shí)局部放電對(duì)絕緣破壞的機(jī)理也是很復(fù)雜的,也需要通過不同的參數(shù)來(lái)評(píng)定它對(duì)絕緣的損害,目前我們只關(guān)心兩個(gè)基本參數(shù)。

視在放電電荷——在絕緣體中發(fā)生局部放電時(shí),絕緣體上施加電壓的兩端出現(xiàn)的脈動(dòng)電荷稱之為視在放電電荷,單位用皮庫(kù)(pc)表示,通常以穩(wěn)定出現(xiàn)的*大視在放電電荷作為該試品的放電量。

放電重復(fù)率——在測(cè)量時(shí)間內(nèi)每秒中出現(xiàn)的放電次數(shù)的平均值稱為放電重復(fù)率,單位為次/秒,放電重復(fù)率越高,對(duì)絕緣的損害越大。

電力電容器作為補(bǔ)償裝置有兩種方法:串聯(lián)補(bǔ)償和并聯(lián)補(bǔ)償。串聯(lián)補(bǔ)償是把電容器直接串聯(lián)到高壓輸電線路上,以改善輸電線路參數(shù),降低電壓損失,提高其輸送能力,降低線路損耗。這種補(bǔ)償方法的電容器稱作串聯(lián)電容器,應(yīng)用于高壓遠(yuǎn)距離輸電線路上,用電單位很少采用。并聯(lián)補(bǔ)償是把電容器直接與被補(bǔ)償設(shè)備并接到同一電路上,以提高功率因數(shù)。這種補(bǔ)償方法所用的電容器稱作并聯(lián)電容器,用電企業(yè)都是采用這種補(bǔ)償方法。按電容器安裝的位置不同,通常有三種方式。

1.集中補(bǔ)償電容器組集中裝設(shè)在企業(yè)或地方總降壓變電所的610kV母線上,用來(lái)提高整個(gè)變電所的功率因數(shù),使該變電所的供電范圍內(nèi)無(wú)功功率基本平衡??蓽p少高壓線路的無(wú)功損耗,而且能夠提高本變電所的供電電壓質(zhì)量。

2.分組補(bǔ)償將電容器組分別裝設(shè)在功率因數(shù)較低的車間或村鎮(zhèn)終端變配電所高壓或低壓母線上,也稱為分散補(bǔ)償。這種方式具有與集中補(bǔ)償相同的優(yōu)點(diǎn),僅無(wú)功補(bǔ)償容量和范圍相對(duì)小些。但是分組補(bǔ)償?shù)男Ч容^明顯,采用得也較普遍。

3.就地補(bǔ)償將電容器或電容器組裝設(shè)在異步電動(dòng)機(jī)或電感性用電設(shè)備附近,就地進(jìn)行無(wú)功補(bǔ)償,也稱為單獨(dú)補(bǔ)償或個(gè)別補(bǔ)償方式。這種方式既能提高為用電設(shè)備供電回路的功率因數(shù),又能改善用電設(shè)備的電壓質(zhì)量,對(duì)中、小型設(shè)備十分適用。

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